一，概述：

由于LED灯负载使用日益广泛，对开关抗冲击要求越来越高。目前普遍使用自镇流灯负载来测试开关的抗冲击特性。由于自镇流灯负载柜测试周期较长（2万循环次数），测试结果等待时间较长；另外采用交流源测试开关导通角比较随机，导致每个被测开关实际承受的冲击结果有一定差异（当然从概率论角度讲应该基本一致）。

为了解决导通角差异问题我们采用直流电源来测试，同时确保每次测试的 Ipeak ，I2t和冲击波形三个要素的一致性，我们开发出这台设备辅助测试。

下表为标准要求的Ipeak 和 I2t参数：

（表格可左右滑动查看）

由此可见标准要求的冲击参数最 大值为：Ipeak = 192A;  I2t = 13。冲击波形为：

我们设备目前可以提供的最 大冲击参数为：Ipeak >600A;  I2t >70（可以定制更高冲击参数）。冲击波形为：

利用这种冲击一致性的设备可以对开关进行快速比对测试，设定一个合格门槛。同时也可以快速发现开关中存在的结构问题（比如支撑片倾斜，触点不对中等）。

   触点偏位

二，操作方法

1，按照下图所示接好测试开关，连接好采样示波器，测试电源的接线端子无需接线。

2，打开主机电源，启动测试电源，调节测试所需电压（一般调到250VDC），按测试需求选择I2t电容（每档电容并联）和Ipeak，按下启/停按钮，对电容进行充电，等待测试电压表达到测试电源设置的电压时表示电容充满电。然后闭合被测开关进行冲击测试，直到测试电压显示为零则完成一次测试。然后断开被测试开关，电容再次进行充电，闭合测试开关进行冲击测试，如此往复。

注：  1）更换被测开关之前，请先按下启/停按钮，确认测试电压表显示为零时再进行被测开关更换，以防高压电击。2）请在测试电压表显示为零时再进行I2t档位选择操作3

3，示波器是用来测量开关接通瞬间的冲击电流波形（由此可以测得I2t和Ipeak）。内置采样电阻比值为100A/1V。下图为用示波器采样的一个冲击电流波形图供参考。